Hysitron Triboscope

AFM-Nanoindenter zur Erforschung der lokalen mechanischen Eigenschaften

Das Gerät besteht aus der Kombination eines Hysitron Triboscope Nanoindentierungsmesskopfes und eines Brucker Multimode AFM-Stage, und ermöglicht eine Nanometer-genaue Positionierung. Es wird zuerst die Oberfläche im AFM Modus abgebildet, dann eine Stelle definiert, und anschließend indentiert.

Spezifikationen

  • max Kraft 10 mN
  • Kraftauflösung 1 nN
  • Verschiebungsauflösung 0.0004 nm

 

 

Verantwortlicher Mitarbeiter:

Stefan Gabel, M.Sc.

Doktorand

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)