In-situ Nanoindenter FT-NMT04

Dieser intrinsisch Verschiebungsgeregelte in-situ Nanoindenter kann imRasterelektronenmikroskop
betrieben werden.

Durch seine integrierte Hochtemperatureinheit können Proben bei bis zu 600°C getestet werden.Operationsmodi:

• Nanoindentierung mit Berkovich-, Cube Corner- oder Kugelgeometrie
• Mikrodruckversuche
• Mikrozugversuche
• Ermüdungsversuche
• Mikrobiegeversuche
• Manipulation von Strukturen
• Scratch-Testing

Spezifikationen:

• max Last 200 mN
• max. Verschiebungsdistanz: 25 µm
• Tiefenauflösung >0.05 nm
• Kraftauflösung >0.5 nN
• Positionierungsgenauigkeit 1 nm
• CSM Messungen bei 500 Hz

Max. Messfrequenz 96 kHz

 

Verantwortliche Mitarbeiter: