In situ Nanoindenter FT-NMT04

Dieser intrinsisch Verschiebungsgeregelte in-situ Nanoindenter kann imRasterelektronenmikroskop
betrieben werden.

Durch seine integrierte Hochtemperatureinheit können Proben bei bis zu 600°C getestet werden.Operationsmodi:

  • Nanoindentierung mit Berkovich-, Cube Corner- oder Kugelgeometrie
  • Mikrodruckversuche
  • Mikrozugversuche
  • Ermüdungsversuche
  • Mikrobiegeversuche
  • Manipulation von Strukturen
  • Scratch-Testing

Spezifikationen:

  • max Last 200 mN
  • max. Verschiebungsdistanz: 25 µm
  • Tiefenauflösung >0.05 nm
  • Kraftauflösung >0.5 nN
  • Positionierungsgenauigkeit 1 nm
  • CSM Messungen bei 500 Hz

Max. Messfrequenz 96 kHz

 

Verantwortliche Mitarbeiter:

Hendrik Holz, M. Sc.

Doktorand

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)

Prof. Dr. Benoit Merle

Gruppenleiter Nanomechanik

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)