• Navigation überspringen
  • Zur Navigation
  • Zum Seitenende
Organisationsmenü öffnen Organisationsmenü schließen
Friedrich-Alexander-Universität Lehrstuhl für Allgemeine Werkstoffeigenschaften WWI
  • FAUZur zentralen FAU Website
  1. Friedrich-Alexander-Universität
  2. Technische Fakultät
  3. Department Werkstoffwissenschaften
Suche öffnen
  • en
  • de
  • Department WW
  • Univis
  • Mein Campus
  1. Friedrich-Alexander-Universität
  2. Technische Fakultät
  3. Department Werkstoffwissenschaften
Friedrich-Alexander-Universität Lehrstuhl für Allgemeine Werkstoffeigenschaften WWI
Menu Menu schließen
  • Lehrstuhl
    • Team
    • Kontakt & Anfahrt
    • Geschichte
    • Stellenangebote
    Portal Lehrstuhl
  • Forschung
    • Atomsondentomographie & 3D-Nanoanalytik
    • Hochtemperaturwerkstoffe
    • Leichtmetalle & Mechanische Prüfung
    • Materialien für Wasserstoff- und Energieanwendungen
    • Nanomechanik
    • Nanostrukturierte Werkstoffe
    • Publikationen
    • Aktuelle Kooperationen
    Portal Forschung
  • Lehre
    • Lehrveranstaltungen
    • Hausseminare
    • Retreat Symposium – Sattelbogen
    Portal Lehre
  • Ausstattung
    • Wärmebehandlung
    • Metallographie und Probenfertigung
    • Mikroskopie und Analyse
    • Mechanische Prüfung
    • Wasserstoffanalytik
    • Tribologische Eigenschaften
    • Erzeugung von nanostrukturierten Materialien
    • Simulation
    • Sonstige Ausstattung
    Portal Ausstattung
  • Downloads
    • Newsletter
    • Tools
    Portal Downloads
  1. Startseite
  2. Ausstattung
  3. Mikroskopie und Analyse
  4. Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB – Zeiss Crossbeam 1540

Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB – Zeiss Crossbeam 1540

Bereichsnavigation: Ausstattung
  • Wärmebehandlung
  • Metallographie und Probenfertigung
  • Mikroskopie und Analyse
    • Atomsonde - Cameca Leap 4000X HR
    • Atomsonde - Oxcart
    • Dynamische Differenzkalorimetrie - Netsch 204 F1 Phoenix®
    • Feldionenmikroskop (FIM)
    • Großkammer-Rasterelektronenmikroskop
    • Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB - FEI Helios NanoLab 600i DualBeam
    • Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB - Zeiss Crossbeam 1540
    • Rasterkraftmikroskop - Bruker Dimension 3100
    • Röntgendiffraktometer - Bruker D5000
    • Röntgendiffraktometer - Bruker D8
    • Transmissionselektronenmikroskop - Philips CM200
  • Mechanische Prüfung
  • Tribologische Eigenschaften
  • Erzeugung von nanostrukturierten Materialien
  • Wasserstoffanalytik
  • Simulation
  • Sonstige Ausstattung

Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB – Zeiss Crossbeam 1540

Focused Ion Beam Crossbeam der Firma Zeiss

  • Cross Beam 1540Esb FIB Workstation mit, In Lens-, SE-, ESB-, QBSD-Detektor
  • Feldemissionselektronenquelle
  • Oxford INCA Energy 350 EDX
  • HKL System mit vier Dioden Forescatter Detektor
  • Gas Injektionssystem (Platin-, Wolframabscheidungen; Ätzgase (Fluor)
  • Kleindiek Mikromanipulator für in-situ Entnahme von Lift-out Lamellen
  • MEMS Kraftsensor zur Durchführung mikromechanischer Experimente

Das Zeiss Crossbeam 1540 Gerät besitzt neben einer Feldemissionselektronenquelle eine Ga-Ionenkanone mit der ein gezielter Materialabtrag möglich ist. Durch diesen Schneidprozess mit Ionen ist es möglich gezielt Querschnitte zu präparieren und diese mit dem Rasterelektronenmikroskop und verschiedenen analytischen Methoden (z.B. EDX, EBSD) genau zu untersuchen und zu charakterisieren. Schadensfälle und mikrostrukturelle Veränderungen können somit gezielt untersucht werden. Desweiteren kann mit diesem Gerät eine Zielpräparation von Proben für die Untersuchungen im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) erfolgen. Durch die in-situ Lift out Methode mit Hilfe von Mikromanipulatoren können von genau definierten Bereichen Proben für das TEM entnommen und mit Hilfe von kleinen Ionenströmen entsprechend bis zur Durchstrahlbarkeit präpariert werden.

 

 

Verantwortliche Mitarbeiter:

Oliver Nagel, M. Sc.

Doktorand

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)

  • Telefon: +49 9131 85-27474
  • E-Mail: oliver.nagel@fau.de

Dominik Steinacker, M. Sc.

Doktorand

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)

  • Telefon: +49 9131 85-25240
  • E-Mail: dominik.steinacker@fau.de

Christina Hasenest

Technikerin

Department Werkstoffwissenschaften (WW)
Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Allgemeine Werkstoffeigenschaften)

  • Telefon: +49 9131 85-27474
  • E-Mail: christina.hasenest@fau.de

Weitere Hinweise zum Webauftritt

50 Jahre WWI

Werkstoffwissenschaft in Erlangen

https://www.youtube.com/watch?v=rbT0kc5qacM
Friedrich-Alexander-Universität
Erlangen-Nürnberg

Martensstraße 5
91058 Erlangen
  • Impressum
  • Datenschutz
  • Barrierefreiheit
  • Facebook
  • RSS Feed
  • Twitter
  • Xing
Nach oben