Rasterelektronenmikroskop inkl. FIB – FEI Helios NanoLab 600i DualBeam

Dual Beam Device (Focused Ion Beam / Field Emission SEM) von FEI

Helios NanoLab 600i FIB Workstation mit SE-,BSE-,STEM-, EBSD- und EDS- Detektor

Mit Hilfe dieses hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit Feldemissionsquelle und integrierter FIB-Technik arbeiten mehrere Lehrstühle der FAU innerhalb eines gemeinsamen Forschungsvorhabens an neuartigen Leichtbauwerkstoffkonzepten und Fertigungsmethoden wie beispielsweise der „additiven Fertigung“. Zielsetzung für die kommenden Jahre ist somit die Ausarbeitung interdisziplinärer innovativer Werkstoffkonzepte, um insbesondere weitere Erkenntnisse über die Mikrostruktur-Eigenschaftsbeziehung zu gewinnen. Hierzu sollen auch vermehrt 3D-Gefügeanalysen, die eine räumliche Darstellung der Mikrostruktur ermöglichen, neuartige in situ Verformungsexperimente und die Zielpräparation von transelektronenmikroskopischen Proben durchgeführt werden.

Verantwortliche Mitarbeiter: